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结 构


   X射线荧光光谱仪(XRF)和X射线衍射仪(XRD)两种常用技术无损确定未知样品组成。X射线荧光光谱仪提供从B到U的成分信息,含量范围从ppm到百分含量。使用基本参数法,XRF提供无标定量分析。X射线衍射提供相结构识别和区分样品中主要,次要,和微量元素的化合物。XRD分析包括矿物名称,化学式,晶体系统,并参考ICDD数据库。XRD使用Rietveld分析也可简单获得定量信息。

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