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ZSX Primus III+ 上照射式波长色散X射线荧光光谱仪


ZSX Primus III+

理学ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量测定,从氧(O)到铀(U)的最低标准的广泛样品类型。

高度可靠性的上照射式光学系统

ZSX Primus III+具有场新的上照射式光学配置。用户再也不用担心由于维护样品室导致的路径污染或停止时间。上照射式几何结构消除了清扫的担心并增加了时间。

高精度样品定位

高精度样品定位确保了样品表面与X设吸纳管之间的距离恒定。这对例如合金分析等需要高精度的应用非常重要。ZSX Primus III+使用一个独特的光学配置执行高精度分析,用于减少由于例如电熔铢和压片等样品中的非平面表面导致的错误。

SQX 基本参数软件与EZ扫描软件

用户使用EZ扫描软件可以在无需任何事先设置即可分析位置样品。这个节省时间的特征仅需点击鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数软件,快速提供最准确的XRF结果。SQX能够自动校正包括线重叠的所有矩阵效果。SQX还可以通过光电子(轻、超轻元素)、变化的环境、杂质和不同的样品尺寸校正辅助的激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序提高准确性。

Features

  • 从O到U的元素分析
  • 上照射式光学最小化污染
  • 小占地面积节省实验室空间
  • 高精度样品定位
  • 特殊光学减少由于弯曲的样品表面造成的错误
  • 统计过程控制(SPC)的软件工具
  • 优化抽空和真空泄露率改善吞吐量

产品展示

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